TY  - BOOK
AU  - Escamilla Esquivel, Adolfo. 
TI  - Metrología y sus aplicaciones
SN  - 9789708172332
U1  - 681.2 E8M4 2009 
PY  - 2009///
CY  - México
PB  - Grupo Editorial Patria
N1  - Incluye glosario e índice; Incluye bibliografía
ER  -